産(chǎn)品名稱:LAP-S1000
技術标準:ISO13320-1:1999,GB/T19077.1-2008
探測單元(yuán):
激光(guāng)類型:
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LAP-S1000采用(yong)分體式設計,适(shi)用範圍更加寬(kuan)泛。性能更加穩(wěn)♈定、量🏒程更大、适(shì)應各種複雜的(de)測試環境,同時(shí)LAP-S1000進行了防🐉塵處(chù)理。
LAP-S1000
采用了分體式(shi)結構,可測試遠(yuǎn)距離樣品,LAP-S1000采用(yòng)了大平台,即使(shi)
*的光路設計:采用了(le)夫琅禾費衍射(she)原理和典型的(de)平行光路設計(jì),配備了大功率(lǜ)的半導體激光(guāng)器;*的高密度探(tàn)測單元,讓LAP-S1000擁有(you)了*的小顆粒測(cè)試能力,LAP-S1000在1μm~1000μm内無(wu)縫測試。同時LAP-S1000又(yòu)加入了光路自(zi)動調整裝置,方(fāng)便操作的同時(shi)又延長了儀器(qi)的适用壽命。
LAP-S1000
光路自動校對(duì):LAP-S1000在噴(pen)霧粒度儀中**加(jia)入了自動對中(zhong)功能,LAP-S1000加入的光(guāng)路自動調📱整系(xì)統,保證了儀器(qi)測量的穩定性(xìng)、準确性。同時大(da)量減少操作者(zhe)的工作強度。
進口鏡頭:采用了(le)日本佳能作爲(wèi)主鏡頭,畸變小(xiao)成像高,接收端(duān)采🍓用了直徑150毫(hao)米大口徑長焦(jiāo)距鏡頭,顆粒探(tàn)測🤟更加。
輔光定位(wei):LAP-S1000加入了輔(fu)光定位功能,定(dìng)位時發射端兩(liang)束激光同時發(fa)㊙️出,接收端雙點(diǎn)吻合後接收端(duān)即可啓動光路(lu)自動調整系統(tong),大大簡化了調(diao)整難度。噴(pēn)霧激光粒度分(fèn)析儀
主要技(ji)術參數:
規(gui)格型号 | ||
執行标準 | ;GB/T19077.1-2008 | |
μm-1000μm | ||
探測器(qì)通道數 | 66 | |
<1%(國家(jia)标準樣品D50值) | ||
重複性誤差(chà) | <1%(國家(jiā)标準樣品D50值) | |
進樣方式 | 開放式進樣(yang) | |
儀器結構(gòu) | ||
分體式導軌(gui)(選配) | ||
進口光纖(xiān)輸出大功率激(ji)光器 λ= 650nm, 功率1-40mw可調(diào) | ||
關鍵參數(shù) | 測量區 | 分體式:儀器(qì)0.1到10米範圍可正(zheng)常測試 |
一(yi)體式:儀器100mm到340mm | ||
鏡頭 | ||
鏡頭保護(hu) | 氣幕保護(hu) | |
進樣方式(shi) | ||
軟(ruan)件功能 | 包(bao)括自由分布、R-R分(fen)布和對數正态(tài)分布、按目分級(jí)統計🈚模式等,滿(man)足不同行業對(dui)被測樣品粒度(dù)統計方式的不(bu)同💞要求 | |
體(ti)積分布和數量(liang)分布,以滿足不(bu)同行業對于粒(lì)度分布的不同(tóng)統計方式 | ||
統計比較 | ||
測試報(bao)告 | 測試報(bao)告可導出Word、Excel、圖片(pian)(Bmp)和文本(Text)等多種(zhong)形式的文檔,滿(man)足在任何場合(he)下查看測試報(bào)告以及科研文(wen)章中引用測試(shi)結果 | |
中(zhōng)英文語言界面(mian)支持,還可根據(jù)用戶要求嵌入(rù)其他語言界面(miàn)。 | ||
操作模式(shì) | 電腦操作(zuo) | |
測試速度(du) | <1min/次 | |
重量 | ||



