D20幹
大量程幹(gan)法激光粒度(du)分析儀
*的光(guāng)路設計
LAP-D2000采用會聚光(guang)傅立葉變換(huan)測試技術保(bǎo)證在較短的(de)焦距獲得較(jiào)大量程,有效(xiào)提高儀器的(de)分辨能力;*的(de)小探頭排布(bù),讓LAP-D2000人性(xing)化設計。
高穩定光路(lù)優化:
*的(de)幹法分散系(xi)統:
LAP-D2000探(tàn)測器采用了(le)主探測器與(yu)副探測器相(xiang)結合的全新(xīn)🈚設計📱,保證了(le)儀器全量程(chéng)内無縫探測(ce),使測試更加(jiā)準确。主探測(ce)器設計了自(zi)動對中系統(tǒng),可實現儀⚽器(qi)的一鍵自動(dong)對中,彰顯人(rén)性化設計。同(tong)時有效避👅免(mian)手動對中對(duì)探測😍器的損(sǔn)害⭐,有效延長(zhǎng)了儀器的♍使(shǐ)用壽命。
儀器(qi)整體進行了(le)密封設計,大(dà)幅提高了内(nei)部元器件使(shi)用壽命。*的懸(xuan)浮式結構能(néng)有效避免外(wài)界震動對儀(yi)器的幹擾,使(shǐ)結果測試更(geng)穩定可靠。
光路自動(dòng)校對:
測試完成後(hou)管道内無殘(cán)留樣品,不會(huì)對下次測試(shi)造成幹擾。
計算機控(kòng)制喂料:
主(zhu)要技術參數(shù):
LAP-D2000 | ||
規格(gé)型号 | ||
執(zhi)行标準 | ;GB/T19077.1-2008 | |
測試範(fan)圍 | 0.1μm -2000 | |
探測器(qi)通道數 | ||
重複(fú)性誤差 | <1%(國家标準樣(yang)品D50值) | |
高精度(du)振動喂料方(fāng)式,保證測試(shi)過程中下料(liao)均勻 | ||
誤(wu)操作保護 | 儀器具備(bèi)誤操作自我(wǒ)保護功能,儀(yi)器對誤操作(zuò)不響應 | |
激光器參數(shu) | ||
高(gao)壓空氣紊流(liu)分散 | ||
分析模式 | R-R分(fèn)布和對數正(zheng)态分布、按目(mu)分級統計模(mó)式等,滿足☔不(bú)同行業對被(bèi)測樣品粒度(du)統計方式的(de)不同要求 | |
統計方式(shì) | 體積分(fèn)布和數量分(fèn)布,以滿足不(bú)同行業對于(yú)粒度🐇分布的(de)不同統計方(fāng)式 | |
可(ke)針對多條測(ce)試結果進行(hang)統計比較分(fen)析,可明顯🏃♂️對(duì)♊比不同批🐪次(ci)樣品、加工前(qian)後樣品以及(ji)不同時間測(ce)試結果的差(chà)異,對工業原(yuán)料質量控制(zhi)具有很強的(de)實際意義 | ||
自行DIY | ||
測試報(bào)告 | 測試(shì)報告可導出(chū)、、圖(tu)片(Bmp)和文(wén)本()等多(duo)種形式的文(wén)檔,滿足在任(rèn)何場合下查(cha)看測試👈報告(gào)以🍉及科🔴研文(wen)章中引用測(cè)試結果 | |
多語言支持(chí) | ||
真正全(quán)自動無人幹(gan)預操作,無人(ren)爲因素幹擾(rao),您隻需按⁉️提(tí)示加💔入待測(ce)樣品即可,測(cè)試結果的重(zhòng)複性更好。 | ||
操作模式(shi) | ||
<1min/次(ci)(不含樣品分(fèn)散時間) | ||
重(zhòng)量 | 35Kg | |



免費(fei)咨詢:
發郵件(jiàn)給我們:
